ASDevices 推出 KA34X 系列：树立超痕量氧测量新标准

采用正在申请专利的吹扫阴极库仑传感技术，在ppb 和ppt 级别的检测范围内，提供了业界领先的稳定性、准确性和运行时间

从左至右：总裁 André Lamontagne，首席执行官/首席技术官Yves Gamache

作为超痕量气体分析技术的全球领导者， ASDevices 今日宣布推出其 KA34X 系列痕量氧分析仪。这一新一代产品重新定义了 ppb 及 ppt 级氧气测量的可能性。该系列基于正在申请专利的吹扫阴极非消耗型库仑传感器，实现了真正的零点稳定性、自动电解液管理功能以及行业领先的可靠性，同时显著降低了人工干预和维护负担。

KA34X 系列的核心在于对库仑氧传感技术的全面革新。传统设计普遍存在阴极结构周围的微小空气泄漏，会导致基线偏移、信号漂移以及异常信号波动，并且随着检出限接近ppt 级，这些问题愈发严重。ASDevices 通过全吹扫阴极屏蔽结构彻底消除了这一隐患，构建了一个可控屏障，有效阻止环境氧进入传感区域。同时，电解液储液系统同样采用吹扫设计，避免氧气和二氧化碳长期扩散进入电解液。这一设计解决了开放式储液结构的典型失效模式，是实现真正零点稳定性的关键，也是竞争对手难以匹敌的核心优势。

ASDevices 总裁 André Lamontagne 表示：“KA34X 系列凝聚了我们多年针对超痕量氧测量关键挑战的研发成果。半导体、特种气体、氢能及空分行业的客户无法接受 ppb 和 ppt 水平下的漂移、停机或不确定性。通过这一平台，我们从根本上消除了这些问题，相关专利也体现了我们在技术上的深度创新。”

除了卓越的测量性能，KA34X 系列在低维护运行方面同样树立了新标杆。系统集成了内置泵和去离子水储液罐，可自动维持电解液最佳状态，实现最长达一年的无人值守运行，彻底摆脱传统痕量氧分析仪需要每周检查、人工补液及频繁干预的局限。当需要更换电解液时，封闭式双阀排放与注入系统可实现安全、无泄漏维护，无需拆卸或暴露传感器。

针对对校准精度要求极高的应用场景，KA34X 系列可选配内置临界锐孔稀释系统，可将稳定的 ppm 标准气体转换为精确的低于 50 ppb 的校准点。这一方案消除了传统 ppm 校准外推带来的误差，实现与实际工况一致的精准校准。系统稀释精度优于 0.5%，稀释比范围覆盖 1:2 至 1:3500。

ASDevices 全球销售副总裁 Frank Zhu 表示：“继获得台积电认证并在全球半导体工厂中推动气相色谱平台广泛应用后，市场对真正可靠的超痕量氧分析解决方案需求日益增长。KA34X 系列完善了我们的连续质量控制产品体系，为我们的半导体、氢气及特种气体客户提供从进气质量到最终纯度认证的每个工艺阶段所需的信心。”

KA34X 平台涵盖 KA341 至 KA346 共六款型号，测量范围从 0–10,000 ppm 至业内领先的45 ppt 检出限。该性能得益于正在申请专利的多子单元传感器架构，通过多个并行测量单元协同工作，有效抑制随机噪声和信号波动，显著提升信噪比，实现超低浓度下的稳定测量。样气及系统完整性由 CVProducts（ASDevices 旗下部门）专利 PLSV 吹扫阀技术保障，可实现无泄漏、无死体积的气路切换。

KA34X 系列搭载 ASDSense CGA 软件平台，基于实时工业操作系统构建，并具备系统冗余设计，确保 7×24 小时可靠运行。直观的触控界面支持自动校准、一个月数据存储、远程控制及固件升级，使系统能够持续满足客户不断发展的需求。

该系列专为高纯气体应用而设计，适用于电子级及超高纯气体质量控制、空分过程、氢气与氦气纯度验证以及特种气体充装等场景。分析仪兼容 H₂、He、N₂、Ar 及 CH₄ 等多种气体。

首席执行官兼首席技术官 Yves Gamache 表示：“我从事超痕量气体分析已超过 40 年，我们团队以持续创新著称。我曾亲自使用上世纪 90 年代推出的技术，深知其局限性。这些技术多年来几乎未有本质改进，仅停留在界面优化层面。KA34X 是该领域数十年来首次真正的技术突破，我们也将持续投入研发，进一步提升性能。”

KA34X 系列现已正式上市。如需了解技术规格、应用支持或申请演示，请联系 ASDevices（sales@asdevices.cn）或访问官网：www.asdevices.cn。

关于 ASDevices

ASDevices 是一家专注于过程及实验室气体分析技术与设备的国际化公司，致力于通过高可靠、高品质的解决方案帮助客户应对复杂分析挑战。公司创始团队在气相色谱领域拥有超过 30 年的创新经验，全球专利超过 180 项。ASDevices 拥有全部核心技术，是全球唯一全面掌握燃料电池级氢气分析关键气相色谱技术的企业，尤其在痕量硫分析方面具备领先优势。