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ASDevices 亮相 GIGIE 2026:创新、交流与超痕量氧分析领域的突破

2026年国际气体工业博览会(GIGIE 2026)于4月15日至17日在中国无锡举行,汇聚了全球气体行业的领先企业、工程师和决策者,共同塑造行业的未来。对于ASDevices而言,这三天充满了精彩的对话、富有意义的交流,以及向精准受众展示我们最新创新成果的宝贵机会。

展会开幕伊始,我们的展位便洋溢着非凡的活力。来自能源、半导体、环保及工业气体领域的客户、潜在客户和行业合作伙伴络绎不绝,展会上的每一个时刻都印证了市场对高性能超痕量气体分析解决方案日益增长的需求。

引人瞩目的突破性产品

虽然我们的全系列产品引起了很多专业观众的浓厚兴趣,但有一款产品在三天展期内格外引人注目:全新发布的 KA34X 系列超痕量氧分析仪

参观者被一个简单而有力的价值主张所吸引。传统痕量氧分析仪存在一个根本性的设计缺陷:阴极外壳周围的微小空气泄漏会导致漂移、零点偏移以及难以解释的信号尖峰,而当检测限接近 ppb 和 ppt 级别时,这些问题变得愈发棘手。KA34X 系列彻底消除了这一缺陷。

该系列产品采用正在申请专利的吹扫阴极、非消耗型库仑传感器,在 ppb 和 ppt 级别上实现了真正的零点稳定性。全吹扫阴极形成了一个受控屏障,阻止环境中的氧气接触传感元件。电解液储液罐同样经过吹扫处理,可防止氧气和二氧化碳随时间扩散进入——这是开放式储液器设计常见的故障模式,而 KA34X 使其成为历史。

最终成果是:一台可靠、无漂移的测量分析仪,大幅减少了操作人员干预和维护负担。对于氧气杂质控制至关重要的行业——半导体制造、氢气生产、特种气体、食品包装——这无疑是真正的进步。

全系列产品精彩亮相

除了 KA34X,我们的团队还展示了 ASDevices 广泛的分析能力:

  • 下一代气相色谱系统,搭载我们获得专利的 增强型等离子体放电(Epd)技术,可在多种化合物中实现 ppb 和 ppt 级别的超痕量检测
  • 氢气纯度 分析仪,专为满足燃料级氢气的 ISO 14687:2019 标准而设计,在氢能经济快速扩张的背景下,该应用需求迅速增长
  • 便携式及现场用痕量气体分析仪,专为不具备实验室条件的真实工业环境打造
  • 用于过程气体质量连续监控的智能互联监测平台
  • 每款解决方案都体现了 ASDevices 的核心理念:打造兼具卓越灵敏度与工业操作所必需的坚固性、可靠性和易用性的仪器。

最有价值的对话

凭借在超痕量气体分析领域超过30年的专业经验,ASDevices 团队参加 GIGIE 2026 并不仅仅是为了展示——我们更是来倾听的。我们的气相色谱专家团队在三天内与各主要行业的客户进行了深入交流,探讨测量挑战,讨论新兴应用,并研判下一代分析技术的发展方向。

这些对话——与排查测量稳定性问题的工艺工程师、寻求更好监控方案的质量经理、以及突破气体纯度边界的研发团队——正是我们创新的源泉。我们制造的每一台仪器,都始于真实客户的真实问题。

展望未来

GIGIE 2026 印证了我们一直以来的信念:市场对高性能、可靠的超痕量气体分析的需求从未如此强烈。随着氢能、半导体制造等行业不断推动气体纯度的极限,对能够在 ppb 和 ppt 级别进行准确、一致、低维护测量的仪器的需求只会持续增长。

我们衷心感谢所有莅临我们展位的朋友,感谢 GIGIE 2026 主办方举办的精彩活动,也感谢我们的团队以如此专业和投入的精神代表 ASDevices。最好的还在后面。

了解 KA34X 系列更多信息

了解 KA34X 系列如何重新定义超痕量氧测量。请联系我们的团队或访问 KA34X 产品页面 获取完整规格和应用信息。